Spécifications techniques
Vue d'ensemble
Analyse avancée du soufre
Cet analyseur de soufre par fluorescence X est conçu pour la détermination rapide et non destructive de la teneur en soufre sur une large plage de mesure. Doté d'un microprocesseur intégré, il offre des corrections automatiques de température, de pression et de rapport C/H pour une haute précision. Le système comprend des protections de sécurité robustes, des capacités d'autodiagnostic et une gestion pratique des données, ce qui en fait un outil essentiel pour le contrôle qualité dans les applications pétrolières et chimiques.
Indicateurs de performance
Plage de mesure
7 ppm
Limite inférieure
5 %
Limite supérieure
- Limite de détection
- 7 ppm
- Quantité d'échantillon d'huile requise
- 2.5 ml
Paramètres opérationnels
Temps de mesure prédéfinis
- 60
- 120
- 240
- 300
- 600
Options de répétition de mesure
- 2
- 3
- 5
- 10
- 50
Capacités du système
- Stockage des courbes d'étalonnage
- 9
- Connectivité
- Port série RS232Compatible avec ordinateurIntégration au système Web
Spécifications physiques
- Dimensions
- 468mm x 368mm x 136mm
- Poids
- 13 kg
Exigences environnementales
Environnement opérationnel
| Paramètre | Valeur |
|---|---|
| Température ambiante | 5～40℃ |
| Humidité relative | ≤85% (à 30 ℃) |
Exigences d'alimentation
- Alimentation électrique
- AC 220V±20V, 50 Hz
- Puissance nominale
- 30 W
